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半導體低壓漏電起痕試驗儀產(chǎn)品介紹
日期：2025-05-09 20:11
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摘要：半導體低壓漏電起痕試驗儀采用計算機控制，通過人機對話完成固體絕緣材料在低壓電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力。設備具備數(shù)據(jù)數(shù)顯、存儲功能、過流保護、過壓保護和門限保護功能。廣泛應用于電工電子、電器、半導體封裝和信息技術設備等領域，并用于電機等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆，以及層壓板等絕緣材料的耐電弧性能測試。
半導體低壓漏電起痕試驗儀 產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品概述
耐漏電起痕試驗（電痕化指數(shù)試驗）是根據(jù) UL746A 、IEC60112 、IEC60335、IEC884-1、 GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92 等標準規(guī)定的模擬仿真試驗項目。耐漏電起痕試驗（電痕化指數(shù)試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時 (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導電液體 (0.1%NH4CL) ，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質(zhì)的聯(lián)合作用下，在表面（或內(nèi)部）產(chǎn)生導電通道。產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品型號：HCLD-21. 試驗電壓：50V-800V可調(diào)（可選200V-1000V可調(diào)）
2. 控制方式：西門子PLC+10寸觸摸屏控制系統(tǒng)
3. 滴液高度：30～40mm 連續(xù)可調(diào)
4. 試驗電壓壓降：≤5%
5. 通滴液次數(shù)：0~9999次可調(diào)
6. 電極距離：4.0mm ± 0.1mm ，夾角 60°±5
7. 電極壓力：1.0±0.05N(可調(diào))
8. 滴液間隔時間：可任意設定
9. 試驗電流量程：3A
10. 試驗艙材料：PC塑料
11. 滴液大?。海?0.0～23.0）mm3 連續(xù)可調(diào)
12. 操控方式：10寸觸摸屏
13. 電極材料：電極頭鉑金、電極桿純銀
14. 漏電判斷：電流大于0.5A并維持2秒鐘切斷
15. 試驗終止：50滴或100滴及漏電流≥ 0.5A并維持時間≥2s時自動終止
16. 供電電源：220V 50Hz 10A
