產(chǎn)品介紹

       D33準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)試驗(yàn)儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)?？煽v向壓電應(yīng)變常數(shù)D33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，同時(shí)也直接影響著換能器的性能參數(shù)。由于同一批材料的壓電陶瓷參數(shù)具有很大的離散度，故測(cè)量壓電陶瓷的D33系數(shù)是很有必要的。

       影響準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性的因素有很多，主要考慮以下因素：壓力是否全部加于試樣，壓力的方向是否與試樣極化軸平行，測(cè)試電極是否平整和相互平行， 受力和產(chǎn)生感應(yīng)電效應(yīng)的面積是否相等，壓力釋放瞬間是否有試樣抖動(dòng)等。另外，測(cè)試線路的絕緣狀況、電容和輸入阻抗等性能參數(shù)也對(duì)此有影響。華測(cè)儀器設(shè)計(jì)了一種既兼具了動(dòng)態(tài)法測(cè)量參數(shù)多、精度高的特點(diǎn)；又避免了人工操作繁瑣、計(jì)算費(fèi)時(shí)的不足，拓寬了動(dòng)態(tài)法的應(yīng)用范圍。高精度壓電系數(shù)D33測(cè)試儀，其分辨率可達(dá)0.01pC/N，采用多種測(cè)量模式?？蓮V泛用于鐵電、壓電材料以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試。本儀器采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率；采用進(jìn)口激振器，以實(shí)現(xiàn)更好的振動(dòng)頻率；電荷采用高阻放電荷放大器；以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。本儀器適合廣大科研院所作為研究壓電材料的測(cè)試儀器。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

01.采用進(jìn)口激振器，以實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的振動(dòng)頻率。

02.采用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，以保證為激振器提供更穩(wěn)定的頻率。

03.采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。

產(chǎn)品參數(shù)

01.超高范圍：100到10,000 pC/N， 精度：±2%±1 pC/N；負(fù)載：1.0uF；

02.高范圍：10到1000 pC/N， 精 度：±2%±1 pC/N，負(fù)載：1.0uF； 

03.低范圍：1到100 pC/N 精度：±2%±0.1 pC/N，負(fù)載: 1.0uF； 

04.超低范圍： 0到10 pC/N， 精度：±2%±0.01 pC/N，負(fù)載: 0.1uF；

產(chǎn)品特點(diǎn)

01.樣品極化方向識(shí)別功能

02.測(cè)試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz到140Hz，精度：±0.1Hz

03.測(cè)試載荷：靜態(tài)力10N，振蕩測(cè)試載荷：0.05N到0.5N可調(diào)

04.樣品重量：1KG

05.軟件校準(zhǔn)功能：可通過計(jì)算機(jī)對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)

06.獨(dú)立控制器控制：直接通過控制器對(duì)設(shè)備進(jìn)行控制測(cè)試，并且可存儲(chǔ)和通 過控制屏幕顯示測(cè)試結(jié)果

07.支持直接打印機(jī)聯(lián)機(jī)打?。?/span>

08.電源：220V，0.5A，50Hz；

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

01.GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測(cè)試》

02.GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 圓片厚度伸縮振動(dòng)模式》 

03.GB/T3389.4-1982《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 柱體縱向長(zhǎng)度伸縮振動(dòng)模式》 

04.GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 強(qiáng)場(chǎng)介電性能的測(cè)試》 

05.GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 熱釋電系數(shù)的測(cè)試